一般財団法人 雑賀技術研究所

     

お知らせ

2016年


展示会

 

ifia JAPAN 2016 出展のご案内

【出展日時】 2016年5月18日(水)~5月20日(金)10:00~17:00
【展示会場】 東京ビックサイト 西1・2ホール 小間番号:BC711
【展示内容】 残留農薬分析サービス

 詳細は、ifia JAPAN公式サイト http://www.ifiajapan.com/2016/jp/visitor/reg.html を、ご参照下さい。(こちらのサイトからアクセスいただくと、無料入場券を入手できます。)
 また、招待券ご希望の方は、下記、営業担当までご連絡いただければ、郵送させていただきます。

なお、会場内において無料セミナーを実施しますので、こちらにも是非ご参加下さい。
  日 時: 2016年5月18日(水)12:30~12:50
  会 場: 食の安全・科学ゾーンセッション会場
  テーマ: 『残留農薬分析サービスについて』
  発表者: 営業部 前田 昌久

 当研究所では、残留農薬分析のパイオニアとして培って参りました豊富な実績と高度な技術力をもって、短納期や難易度の高い試料の分析ニーズにお応えしております。

 展示会場においては、ご依頼の翌日には分析結果をご報告する「わんでいサービス」やこのたび開発した「食品素材・健康食品専用メニュー」のほか、2016年度検疫所モニタリング検査項目など内容・価格共に充実したオリジナルメニューを数多く取り揃えて、皆様方のご来場をお待ち申し上げております。

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